随着芯片制造和测试自动化程度的提高，人体接触器件的机会相对减少，带电器件模型（CDM）已经成为微电子器件失效的主要原因之一，其重要性越来越多地受到人们的重视。

美国旧版国家标准 ANSI／ESD S20.20-1999，颁布后即被美军方采纳，也属美国军用标准，该标准规定：EPA的湿度控制由各单位决定、自己选择，推荐范围为30％RH～70％RH，并声明“仅为建议值”。我国1997年版军用标准GJB 3007《防静电工作区技术要求》规定的湿度控制范围为45％RH～75％RH，湿度低限值高，不同于我国航天标准的要求，在实施中给航天有关单位带来困难。例如，在质量体系认证时往往受到责问：“为什么不执行国家军用标准的规定？”，并认定发生了“不合格项”

测量的技术参数有静电电荷、静电电压、表面电阻、体电阻、接地电阻、静电衰变时间、静电放电的电流波形和静电放电的能量。

静电损伤直接危害产品质量，特别随着电子产品或元件集成度不断提高，静电损伤可能性进一步增加。只有提供系统的、有效的静电防护措施才能使ESDS产品或元件免受损伤，产品质量才能更上台阶。然而，当前很多国产器件研制生产单位过度考虑成本，导致静电防护不到位，

测量是工业的眼睛，没有眼睛就什么也不知道了。静电防护工程和产品是否合格，要用数据说话，测量仪器以及仪器的计量校准方法也是静电防护的关键技术。